Systemteknik
SMD075 VLSI-konstruktion 4.0 Poäng
THIS PAGE IS ALSO AVAILABLE IN ENGLISH
Program/Tidsperiod
Val D3, E3 / NEDLAGD
/
SPRÅK: Engelska/Svenska
EXAMINATOR
Glenn Jennings Univ lekt
FASTSTÄLLD
Kursplanen är fastställd av Institutionen för systemteknik 1995-05-29 att gälla från HT95.
FÖRKUNSKAPSKRAV
Digitalteknik.
MÅL
Kursen syftar till att ge den studerande grundläggande kompetens i metodik för konstruktion av större och funktionellt komplexa digitala system där VLSI förekommer som tillgänglig teknologi. Delmål:
- att ge den studerande en grundläggande kompetens i konstruktion av synkrona digitala strukturer givet en problembeskrivning på hög nivå.
- att göra den studerande bekant med ett antal VLSI implementeringssätt, dess möjligheter och begränsningar, och hur konstruktionsprocessen anpassas för ett gott utnyttjande av VLSI i stora konstruktioner.
- att göra den studerande bekant med olika typer av modelleringsmetodik och konstruktionsverktyg som stödjer konstruktionsprocessen från de första utvärderingarna ända ner till implementerade kretsar.
INNEHÅLL
Arkitektur och blockschema: Explorativ strukturerad konstruktionsmetodik. Register transfer level (RTL), kompilerad simulering. Latchen och tvåfasklockning, parallellism, pipelining. Statisk tidsverifiering,kritiska vägar, klockfrekvens. Hierarki.
Logiksyntes: Funktionella beskrivningar av kombinatoriska nät. Verktyg för två-nivå och fler-nivå logikminimering. Mappning till implementationsbibliotek. Klassiska tillståndsmaskinspråk. Standardceller, mappning/routing för field-programmable teknologi (FPLD).
Kontaktnät och layout.: Enkla switchfunktioner. Regelbundna kontaktnät. ROM. Laddning, minne, förladdning. N och P transistorer, ledare och kontakter i CMOS. Lager, layoutregler. Planritning. Layoutskisser och kompaktering; regelbundenhet. Layoutextraktion och simulering på kontakt- och transistornivå. Automatgenererad layout, modulerisering och parametrisering. Modul- och PLA-generatorer. Global ledningsdragning. Kiselkompilering. Kontroll av layoutregler (DRC).
Kisels elektriska egenskaper: MOS transistorn. N- och P-well, substratkontakter. Resistanser och kapasitanser. Drivning av stora laster, paddar. Tidsverifiering, klockförskjutning. Effektförbrukning.
UNDERVISNING
Undervisningen består av lektioner och obligatoriska laborationer som utföras av laboranter, dels i mindre grupper, dels ensam.
EXAMINATION
Examination sker med hjälp av godkända laborationer och skriftlig tentamen med differentierade betyg.
KURSENS BETYGSKALA: U,3,4,5
MOMENT/PROV
Laborationer 1.0 Poäng
Tentamen 3.0 Poäng
LITTERATUR
ÖVRIGT
Last modified: 97-03-05
Further information: Glenn Jennings
Tillbaka till institutions meny